20.10.2026, 8:18
Коллектив ученых из Томского научного центра СО РАН, Института физики прочности и материаловедения им. В.Е. Панина СО РАН, Института сильноточной электроники СО РАН и ЦКП «СКИФ» с помощью метода синхротронной рентгеновской дифракции в режиме реального времени изучил эволюцию фазовых превращений в многослойной системе бор-титан при импульсном облучении электронным пучком. Исследование открывает фундаментальную основу для перехода […]
Читать весь текст →